| 機器No. | 1D001W |
|---|---|
| 種 別 | 寸法・形状測定 表面観察機器類(D) |
| 機器名 | 走査型電子顕微鏡(金属観察用) |
| 研修時間 | 4時間 |
| 研修料金 | 0円/回 |
| 使用料 | 1770円/時間 |
| 担当部署 | 機械電子技術部 |
| 仕 様 | 金属表面の形態観察や定性分析を行う。 分解能:高真空3.0nm(30kV)/低真空4.0nm(30kV) B~Cfの範囲の元素の定性分析 |
| メーカー及び型式 | (走査型電子顕微鏡) ㈱日立ハイテク SU3800、 (エネルギー分散型X線分析装置) オックスフォード・インストゥルメンツ㈱ AZtecLive Lite Xplore30 |
| 画 像 | ![]() |
| 備 考 |